产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > 电镀层测厚仪 > Thick8000X荧光镀层膜厚仪Thick8000

X荧光镀层膜厚仪Thick8000

更新时间:2020-04-13

简要描述:

X荧光镀层膜厚仪Thick8000主要应用于金属镀层膜厚的检测,镀金、镀镍、镀锌、镀银等,天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家,分析仪器上市企业,Thick8000是目前公司达的一款,有着*的三维移动平台,清晰的样品观测系统,国内品牌。

X荧光镀层膜厚仪Thick8000硬件

 

全景和局部两个工业高清摄像头

高低压电源

主机壹台,含下列主要部件: 

微焦斑X光管                 

大面积SDD电制冷半导体探测器

数字多道分析器

超高精度三维移动平台

开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩

电动调节准直器

防撞激光保护器

激光定位装置及图像自动对焦技术

 

X荧光镀层膜厚仪Thick8000软件及其他

 

天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件

计算机、打印机各一台

仪器使用说明书

标准附件

准直孔:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种(已内置于仪器中)

 

技术指标

 

*的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围:硫(S)~铀(U

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

准直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃30℃

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市天瑞仪器有限公司

深圳市天瑞仪器有限公司

地址:深圳市宝安区松岗芙蓉东路桃花源科技创新园22层AB区

备案号:  总访问量:140320  站点地图  技术支持:环保在线  管理登陆