金属镀层X荧光测厚仪（X-Ray)适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。天瑞仪器thick600金属镀层分析仪是一款性价比的产品，得到了广泛应用和认可。
金属镀层X荧光测厚仪工作原理：X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量（若密度已知，则为覆盖层线性厚度）和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
金属镀层X荧光测厚仪（即镀层膜厚仪）主要应用于以下领域：
电镀行业：用于测量金属基材表面金、镍、铜等镀层厚度，确保电镀件具备防腐蚀和装饰性能。
电子通讯领域：检测PCB（印刷电路板）及芯片镀层厚度，保障电子部件的电气性能和可靠性。
航空航天：对关键部件的镀层进行高精度测量，符合航空航天领域对安全标准的高要求。
珠宝首饰：采用无损检测技术测量贵金属（如金、银）镀层厚度及成分，确保饰品质量。
工业制造：应用于五金电镀、汽车配件等领域的镀层质量控制，优化工艺流程并减少材料浪费。
