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国产X荧光多元素分析仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

天瑞仪器公司是专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、X荧光多元素分析仪EDX3600H,融汇*的合金分析技术,配备合金测试效果的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。
国产X荧光多元素分析仪

仪器介绍

 

X荧光多元素分析仪具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。 
同时检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
X荧光多元素分析仪(EDX3600H)是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型,具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。 
天瑞仪器公司是专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、X荧光多元素分析仪EDX3600H,融汇*的合金分析技术,配备合金测试效果的智能真空系统,利用低能光管配合真空测试,可以有效的降低干扰,提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到*水平 
针对合金的测试而开发的配件 
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 
低能X射线激发待测元素,对Pb、S等微含量元素激发效果好 
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性; 
高信噪比的电子线路单元 
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制; 
内置高清晰摄像头 
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

技术指标

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U) 
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 
同时分析元素:一次性可测几十种元素 
测量时间:60秒-200秒 
能量分辨率为:(140±5)eV 
管压:5KV-50KV 
管流:50uA-1000uA

 

硬件

 

主机壹台,含下列主要部件:
(1)X光管  Rh靶材                      (2)SDD电制冷半导体探测器
(3)放大电路和数字多道分析器             (4)高压电源系统
(5)高清晰摄像头                         (6)自动切换准直器
(7)自动切换滤光片                       (8)准直器和滤光片自由组合
(9)可抽真空样品腔及真空泵               (10)嵌入式液晶屏90mm×70mm

 

软件

 

天瑞X荧光光谱仪成分分析软件V2.0
计算机、打印机各一台
资料:仪器使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。

标准附件

(准直孔:包括Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф4.0mm、Ф3.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一个,共8个(已内置于仪器中);
滤光片:5种组合(已内置于仪器中);
标准样品(欧盟标样):0#标样、塑胶标样各一片、银校正片一片。

 

技术指标

 

分析元素范围:Na-U
测量精度:0.05%(含量大于96%的样品)
元素测量范围:PPM级-99.99%
高压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
能量分辨率:145±5eV
RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br达2ppm(因基体不同检出限可能存在一定差异)。
测量时间:60s-300s
计数率:计数率可高至100000cps

环境要求

环境温度要求
15℃-30℃
环境相对湿度:<70%
工作电源:交流220±5V
周围不能有强电磁干扰。

 

标准配置

 

合金测试高效超薄窗X光管 
超薄窗大面积的*SDD探测器
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
内置高清晰摄像头 
自动切换型准直器和滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序 
整体钢架结构,力度可靠的保证 
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm 
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg

 

产品用途

 

X荧光多元素分析仪是天瑞仪器自主研发生产的仪器,主要应用于合金元素检测、ROHS检测、矿石元素分析、炉渣分析、土壤分析、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品。 

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深圳市天瑞仪器有限公司

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