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XRF荧光光谱仪EDX4500H

更新时间:2020-04-13

简要描述:

XRF荧光光谱仪EDX4500H是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

波长色散型XRF荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X射线荧光谱仪产生于上世纪50年代,由于可以对复杂体系进行多组分同时测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。

X荧光光谱仪的使用

  1 启动

  1.1 如停机在2-8小时,则外冷水需先运转10分钟,内冷水需先运转5分钟;如停机在8小时以上,则外冷水需先运转15分钟,内冷水需先运转10分钟。

  1.2 开机顺序为打开外冷水

  1.3 打开内冷水(COOLER)开关

  1.4 打开CTROL、VACUUM开关(观察真空度是否下降到10以下,观察内冷却水的电导率是否在10以下)

  1.5 打开HEATER

  1.6 打开板高压开关

  1.7 打开电脑,打开MXF操作软件,点击Monitor,观察状态并检查是否联机

  1.8 一切正常后,打开面板右下方X-RAY开关

  1.9 点击面板左上方X-RAY ON按钮,可打开X射线--按照(5KV-0mA)--(10KV-mA)--(15KV-0mA)--(20KV-0mA)--(20KV-5mA)--(20KV-10mA)顺序升高管流、管压。如停机在2-8小时,则每步需等待10分钟;如停机在8小时以上,则每步需等待20分钟

  1.10 点击Maintenance栏位-弹出Maintenance-MXF-点击Inrument Setup-弹出Instrument Setup-在X-ray下方管压、管流栏位中,将两项设定为(30、20),点击执行,即可使光管条件恢复待机状态,可进行常规分析操作。

 

产品介绍

 

EDX 4500H——XRF荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

 

性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到*水平

新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比

低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的*性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

 

技术参数

 

产品型号:EDX 4500H

产品名称:X荧光光谱仪

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)

元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

同时分析元素:一次性可测几十种元素

测量时间:30秒-200秒

探测器能量分辨率为:145±5eV

管压:5KV-50KV

管流:50μA-1000μA

测量对象状态:粉末、固体、液体

输入电压:AC 110V/220V

环境温度:15℃-30℃

环境湿度:35%-70%

样品腔体积:320mm×100mm

外形尺寸:660mm×510mm×350mm

重量:65Kg

 

XRF荧光光谱仪EDX4500H标准配置

 

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

 

XRF荧光光谱仪EDX4500H应用领域

 

XRF荧光光谱仪合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

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深圳市天瑞仪器有限公司

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