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国产X荧光光谱分析仪EDX4500H

更新时间:2020-04-13

简要描述:

国产X荧光光谱分析仪EDX4500H是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

产品介绍

 

EDX 4500HX荧光光谱分析仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。

该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

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另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。X荧光光谱分析仪是属于大型光学精密一起。以前我国主要依靠进口光谱分析仪,进口的光谱分析仪价格昂贵,耗费国家大量外汇。所以一机都在75年组织了光电式光谱分析仪会战,从此我国可以自己大量生产大型X荧光光谱分析仪。X荧光光谱分析仪结构虽然很复杂,主要由下面四部分组成:光源、分光器(又称单色器)、接收器(又称探测器)、输出装置。为了更好的利用仪器和得到满意的测试结果,必须对仪器各主要部分的作用和原理有所了解。

 

产品优点

 

1.采样方式灵活,对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。

2.测试速率高,可设定多通道瞬间多点采集,并通过计算器实时输出。

3.对于一些机械零件可以做到无损检测,而不破坏样品,便于进行无损检测。

4.分析速度较快,比较适用做炉前分析或现场分析,从而达到快速检测。

5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。

光谱分析仪的缺点

1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。

2.不是原始方法,不能作为仲裁分析方法,检测结果不能做为国家认证依据。

3.受各企业产品相对垄断的因素,购买和维护成本都比较高,性价比较低。

4.需要大量代表性样品进行化学分析建模,对于小批量样品检测显然不切实际。

5.模型需要不断更新,在仪器发生变化或者标准样品发生变化时,模型也要变化。

6.建模成本很高,测试成本也就比较大了,当然对于大量样品检测时,测试成本会下降。

7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响,经常出现曲线非线性问题,对检测结果的准确度影响较大。

 

技术参数

 

产品型号:EDX 4500H

产品名称:X荧光光谱分析仪

测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)

元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)

同时分析元素:一次性可测几十种元素

测量时间:30秒-200秒

探测器能量分辨率为:145±5eV

管压:5KV-50KV

管流:50μA-1000μA

测量对象状态:粉末、固体、液体

输入电压:AC 110V/220V

环境温度:15℃-30℃

环境湿度:35%-70%

样品腔体积:320mm×100mm

外形尺寸:660mm×510mm×350mm

重量:65Kg

 

标准配置

 

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探测器

数字多道技术

光路增强系统

高信噪比电子线路单元

内置高清晰摄像头

自动切换型准直器和滤光片

自动稳谱装置

三重安全保护模式

可靠的整体钢架结构

90mm×70mm的状态显示液晶屏

真空泵

 

国产X荧光光谱分析仪EDX4500H性能特点

 

高效超薄窗X光管,指标达到*水平

新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比

低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的*性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

 

国产X荧光光谱分析仪EDX4500H应用领域

 

X荧光光谱分析仪合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

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深圳市天瑞仪器有限公司

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